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KTE凯特ANF200数字式覆层测厚仪多功能测量说明
产品概述：
ANF200数字式覆层测厚仪是本仪器一种超小型测量仪，它能快速，无损伤，精密地进行涂、镀层厚度的测量.广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,由于该仪器
体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
主要特点：
采用了磁性和涡流两种测厚方法，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（GROUP）；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）；
可采用两种方法对一起进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有存贮功能：可存贮500个测量值；
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，可也删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；
具有打印功能：可打印测量值、统计值、限界、直方图；
具有与PC机通讯的同能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便对数据进行进一步处理；
具有电源欠压指示功能；
操作工程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；
参数规格：
测头类型 | F | N | |
工作原理 | 磁感应 | 涡流 | |
测量范围(µm) | 0~1250 | 0~1250 铜上镀铬（0-40） | |
低限分辨率(µm) | 0.1 | 0.1 | |
示值 | 一点校准(µm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1.5) |
二点校准(µm) | ±[(1~3%H)+1] | ±[(1~3%H)+1.5] | |
测试条 | 小曲率半径(µm) | 凸1.5 | 凸3 |
小面值的直径(mm) | Φ7 | Φ5 | |
基体临界厚度(mm) | 0.5 | 0.3 | |
头选用参考表
覆盖层
基体 | 有机材料等非磁性覆盖层(如：漆料、涂料塑料、搪瓷和阳极化处理等) | 非磁性的有色金属覆盖层(如：铬、锌、铝、铜、锡、银等) |
如铁、钢等磁性金属 | F性探头 测量范围： 0µm~1250µm | F型探头 测量范围： 0µm~1250µm |
如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属 | N型探头 测量范围： 0µm~1250µm | N型探头仅用于铜上镀铬 测量范围 0µm~40µm |
产品图片：
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