晶振频率的测试方法

产品简介：
一、CX-118A是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。 
具有PPM测量功能，预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业，测试结果显示直观。
主要功能：频率测量，PPM测量，周期测量，数据累计 ，功能设定
 

二、主要技术指标：
频率测量范围： 0.1Hz — 100MHz
频率测量灵敏度：30mv 
PPm测量：3KHz — 100MHz
PPm测量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定
误差设置范围设定：± 1 — ± 999 PPm任意设定。
闸门设置：四档 ，0.01s、 0.1s、1s三档固定，
1档闸门1ms — 10s可设，
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围：100 ms — 10 s
晶振稳定性：5 ×10-7 / 日
（可选 1 ×10-7/ 日，1 ×10-8 / 日）
时基频率：OCXO--10MC

三、特点：
微机控制，可编程器件开发， 模块化设计
100MHz同步等精度测量方式
SMT贴装生产、工艺，全新小型化结构设计
9位LED显示 
PPm提示功能 

四、可选配：
晶体测量匹配器：32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .

注：仪器配置
CX-117A晶体测试仪/PPm 1台
连接电缆 2 根
电源线 1根
匹配器32.768KHz ～ 20MHz 1个
保险丝 2个
说明书 1份
合格证 1个

晶振频率的测试方法

仪器面板功能介绍

CX-118A晶振测试仪前面板及功能介绍

一、面板示意图：

                                   图一

二、面板名称及功能介绍

晶振频率的测量

一、在仪器使用前，应检查电源是否符合本仪器的电压工作范围，仪器使用三芯电源线，电源插座接地良好。经上述检查后仪器即可通电。

本机使用电源为交流 220V±10%，按下前面板左下方的电源开关键，开机后仪器自检，并显示机型，接着仪器进行自校测量，自动测量机内的钟频信号。如下图二所示：

                                图 二

二、 频率测量操作：

将晶振测试盒的四芯插头连接到主机输入A插座（9）如下图三所示：

               图三

2、 按闸门（6）键，置1s灯亮。此键与速度调节（10）键配合使用，备注：当速度调节旋钮打开时，按闸门键不起作用。

1、把晶振插入晶振测试盒相应的位置，按“”或“Δ”键，点亮“FA”，此时显示屏显示的值为当前晶振频率值，

三、晶振频段的选择与切换方法

1、选择当前被测晶振的频段，如果被测晶振的频率低于10MHz必须按下低通键（8），如图四，反之大于10MHz的晶振必须弹上来，如图五所示

            图 四                                   图 五

2、 将晶振插入测试盒相对应的卡槽中，按下手柄锁定被测晶振，此时测试盒电源指示亮，而且主机数据显示窗口（10）显示当前被测晶振的实际频率。

注：1、闸门的选择，依据显示被测信号有效位数，来确定或测量的速度。

2、当所测量的频率大于5V时，请按下衰减键。

四、测试盒的频段的划分

晶体测量匹配器：32.768KHz-20MHz (标配)

20MHz-40MHz （选配）

40MHz-65MHz （选配）

65MHz-100MHz（选配）

注：测试晶振时需选择相应频段的测试盒

五、晶振测试盒的开关选择与使用方法

当选择好相应频段的测试盒后,需将测试盒的开关拔置相应的位置，32.768KHz-1MHz以内的晶振要将开关拔到左边如图六所示，1MHz以上晶振必须拔到右边如图七所示，