四探针探头的选择

来源：宁波旗辰仪器有限公司 2018年03月12日 08:46

四探针电阻率方阻测试︱四探针探头的选择

四探针电阻率方阻测试︱四探针探头的选择：

四探针探头是四探针法测试电阻率/方阻测试系统的关键部件。探头通过四根探针，以适当的压力和点阵形式与样品接触，连接四探针仪器后，实现四探针法电流的加载，电压的取样。应根据样品的物理特性，如是固体还是粉末，是一般硅片、金属等硬质材料还是柔性薄膜、涂层、ITO膜类材料，是单一导电层材料还是复合导电层，样品的尺寸大小等条件来选择探头的压力和点阵形式，选择型号。

表2《四探针探头型号规格特征选型参照表》

序号	型号	名称	特征图片	规格参数	选用场合
1	ST2253-F01	钨针直线四探针探头		直线四探针针距：1+1+1，探针：碳化钨针	硅片、金属等硬材料电阻率/方阻测试
2	ST2558A-F01	光伏电池片方阻直线四探针探头		直线四探针针距：2+2+2，探针：长钢尖针	硅材料光伏电池片方阻测试
3	ST2558A-F02	薄膜方阻刀型测试台		刀型测试台刀距100，刀宽100	柔性薄膜、金属涂层膜方阻测试
4	ST2558B-F01	薄膜方阻直线四探针探头		直线四探针针距：2+2+2，探针：镀金磷铜半球形针尖	柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试
5	ST2558B-F02	箔上涂层电阻率方阻四端子探头		针距8，直径4探针：圆柱平端面	箔上涂层电阻率/方阻测试
6	ST2558B-F03	薄膜方阻直线四探针探头		直线四探针针距1+1+1，探针：镀金磷铜半球形针尖	柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试
7	ST2571A-F01	薄膜方阻矩形四探针探头		矩形四探针针距1X1探针：碳化钨针	硅片电阻率和方阻仪
8	ST2571A-F02	薄膜方阻矩形四探针探头		矩形四探针针距1X1探针：镀金磷铜半球形针尖	柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试
9	ST2571A-F03	薄膜方阻矩形四探针探头		矩形四探针针距2X2探针：镀金磷铜半球形针尖	柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试

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