偏光显微镜的特点及基本原理

偏光显微镜（Polarizing Microscope）

偏光显微镜是用于研究所谓透明与不透明各向异性材料的一种显微镜。凡具有双折射的物质，在偏光显微镜下就能分辨的清楚，当然这些物质也可用染色法来进行观察，但有些则不可能，而必须利用偏光显微镜。

偏光显微镜的特点

将普通光改变为偏振光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射（各向同行）或双折射性（各向异性）。双折射性是晶体的基本特性。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物、化学等领域，在生物学和植物学也有应用。

偏光显微镜的基本原理

偏光显微镜必须具备以下附件：起偏镜，检偏镜，补偿器或相位片，无应力物镜，旋转载物台。

偏光镜检术的方式

a、正相镜检（Orthscope）:又称无畸变镜检，其特点是使用低倍物镜，不用伯特兰透镜（BertrandLens）,被研究对象可直接用偏振光研究。同时为使照明孔径变小，推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。

b、锥光镜检（Conoscope）：又称干涉镜检，研究在偏振光干涉时产生的干涉图样，这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。在该方法中，用强会聚偏振光束照明。

偏光显微镜在装置上的要求

a、光源：采用单色光，因为光的速度，折射率，和干涉现象由于波长的不同而有差异。一般镜检可使用普通光。

b、目镜：要带有十字线的目镜。

c、聚光镜：为了取得平行偏光，应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。

d、伯特兰透镜：聚光镜光路中的辅助部件，这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。它可保证用目镜来观察在物镜后焦平面中形成的平涉图样。

（5）偏光镜检术的要求

a、载物台的中心与光轴同轴。

b、起偏镜和检偏镜应处于正交位置。

c、制片不宜过薄。