固体及薄膜表面Zeta电位分析仪
贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪，型号：DelsaNano C/Solid Surface，是*台应用电泳光散射原理，通过测量探测粒子在电场中的运动特征而求得固体（或薄膜）与液体之介面Zeta电位的分析仪。该仪器的上市为固液介面特性的表征提供了一个全新的方法。开拓了一个可探索的包括薄膜、纤维等固体表面研究的新领域。
固体平面样品的Zeta电位可以使用平面样品池来测定。该样品池的上壁为固体平面样品的表面代替。由于样品池上下壁表面的电荷有差异，样品池中的电渗流变得不对称。电渗流取决于安装的样品平面的表面电荷。可用Mori和Okamoto的方程来分析，以测定上壁（样品）表面处的电渗流速度。可以通过表观迁移率减去真实迁移率计算得出。样品的表面Zeta电位可采用Smolochowski方程计算得出。因此固体平面样品的Zeta电位可以被测量。