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目录:牛津仪器(上海)有限公司>>Cypher Accessories: Nanoelectrical Properties>> 扫描微波阻抗显微术(sMIM)

扫描微波阻抗显微术(sMIM)
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更新时间：2022-11-30 19:30:34浏览次数：196评价

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产品简介

sMIM 可在Cypher原子力显微镜上实现对金属、半导体和绝缘材料的纳米级的介电常数和导电性成像。 询价 增加到询价列表 在询价列表中查看此产品

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Datasheet
Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM) Data Sheet

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