C-Swift+是一个良好、高速EBSD探测器。和Symmetry S3 探测器一样，C-Swift+使用定制的CMOS传感器来实现高速和高灵敏度，以确保即使在更具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。

C-Swift+速度为2000 pps，同时可获得高质量的花样分辨率(156 x 128 像素）。这相当于基于CCD的探测器以相似速度运行时所采集花样像素数的4倍，确保所有类型样品的可靠标定和高。无失真光学系统与AZtec软件中强大的标定算法结合，使C-Swift+能够提供优于0.05°的高角度精度。对于需要更高质量花样的应用，C-Swift+可以以高达250 pps的速度采集622 x 512像素的花样，使其成为复杂的多相样品和精细的相分析的理想选择。

这是专为快速、有效的样品表征而设计的探测器。系统的每个组件，从接近传感器到可选的集成前置探测器，都经过设计, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成为每个实验室的标准工具。