光谱仪扫描式的OLED器件寿命测试 返回列表页

系统概述
硅光电寿命测试机台提供了一种经济型的OLED器件寿命测试方式，但受限于硅光电对于可见光光谱的响应曲线与CIE的人眼视觉函数不能*匹配，当器件在寿命衰减过程中光谱形状发生变化，或光谱波峰发生偏移时，其测得的相对亮度值就不在准确。

为了能测出OLED器件和亮度绝对值、色度和光谱在衰减过程中的变化，弗士达公司开发了光谱仪扫描式的OLED器件寿命测试方案。将分光辐射亮度计安装于XYZ自动移动轴上，分别扫描每个器件发光点的亮度色度和光谱数据，得到器件在寿命衰减过程中的亮度、色度和光谱随时间的变化曲线。


系统组成
1.FS-GA3机台，包括三轴直线移动控制模块
2.分光辐射亮度计
3.自动视觉对位工业相机
4.多通道定电压或定电流输出寿命测试电源；
5.多通道电压电流测量Keithley3706A；
6.多套器件测试治具，可选常温或独立温控。
7.OLED器件寿命测量软件