多片OLED器件IVL+视角测量 返回列表页

多片OLED器件IVL+视角测量系统

主要应用于OLED材料和OLED屏体生产工厂，满足客户大批量的OLED器件的IVL特性和亮度视角特性测试需求。

系统特点

1.大批量器件的测试
系统配有多通道电路选择器，可支持多达24片共96个发光点的OLED器件依次点亮测试（具体器件和发光点数量可定制）。测试前可预点亮所有发光点以确认器件是否均正常。

2.发光区域中心自动对位识别
工业视觉对位CCD自动识别发光点位置，不管是垂直测IVL还是旋转器件测视角亮度，始终保证测量点对准发光区域中心。

3.大视角范围测试
即使是3*3mm的发光点，在测视角时仍可以满足75度视角以上的测试要求。同时工业视觉对位相机可修正旋转时产生的测量点偏差，保证大视角下测量点依然对准器件发光中心。

4.高低温温控箱
可选配高低温箱（温控范围：-40-100℃）

5.光谱仪的高速测量
为节省低辉度下的光谱仪测量时间，弗士达支持CS-2000A的高速Dll模式并对其优化，以实现亮度大量程和快速测量的结合，以节省测量时间，提高机台的测试效率

OLED器件IVL测试系统测量软件

I-V-L曲线测量的设定
1.可以设定起始电压、终止电压、电压步长，进行连续的测量
2.可以设定起始电流密度、终止电流密度、电流密度步长，进行连续测量
3.可以单独设定电流密度的亮度检测下限值，低于下限值时仅测电流电压，超过下限值后同时测电压电流亮度等数据
4.可以设定并保存设定的机种参数，下次测量时可以直接调用

I-V-L的测量数据
测量的结果包括：亮度L(cd/m2)，电流效率(mA/cm2)，发光效率，外量子效率，色坐标(x，y)，色温，显色指数CRI，发光光谱
输出的测量项报表中的 图表包括： Cdens-V，Cdens-L，Cdens-LumE，Cdens-EQE，CIE1931，Spectra