纳米薄膜导热测量的选择：热反射法

课程描述

小型化和高性能一直是电子器件发展的两大主题。苹果最新的M1芯片，大小虽然只有120 mm2，但里面足有160亿个晶体管，而在如此高的晶体管密度的芯片中，如何控制芯片发热就变成了一个巨大的挑战。在我们想要很好的控制芯片散热之前，必须得先了解芯片本身的导热性能。但芯片实际是一个多层结构，层厚只有纳米级，这种纳米级厚度薄膜的导热性能我们又该如何表征呢？

本次讲座就向大家介绍针对纳米薄膜导热测量的最佳方法——热反射法，并告诉大家，我们该如何利用这种方法来测量纳米薄膜的导热系数，热阻以及多层材料间的界面热阻等参数。