国创科仪 多功能X射线吸收谱仪SuperXAFS M9000

核心参数

1.能量范围：4.5-20keV

2.样品处光通量：≥1×10⁶ photons/s @7-9 keV

3.能量分辨率：0.5-1.5 eV@7-9 keV

4.能量重复性：≤30 meV@24h

5.调节机构精度：能量扫描最小步长0.1eV

工作模式

1.支持近边快扫功能。

2.支持透射/荧光模式吸收谱、发射谱。

功能亮点

1.定制多样品自动采集，减少进样次数。

2.提供标样数据库，简化用户分析。

3.支持原位场景定制，提供吸收谱专业数据解析指导。

国创科仪 多功能X射线吸收谱仪SuperXAFS M9000

X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES）是一种用于研究材料局部结构和电子状态的非破坏性技术。该技术利用 X 射线与物质的相互作用，获取指定元素的近边吸收谱（XANES）、扩展远边吸收谱（EXAFS）和特定能带发射谱，分别用于分析元素的化学状态和价态、原子周围局部环境的配位结构，以及甄别测量元素的配位原子类别，是表征晶态和非晶态材料微观配位结构的重要手段。XAFS/XES主要应用于催化剂 、合金、陶瓷、环境污染物、各类晶态和非晶态材料及生物样品内金属离子的价态、配位结构及电子状态分析，以及材料局部结构在热场、光场、电场和磁场变化下的局部结构动态演化过程研究等。