国创科仪 宽能谱X射线吸收谱仪 SuperXAFS T2000

核心参数

1.能量范围：2-20keV
2.样品处光通量：≥1×10⁶ photons/s @7-9keV
3.能量分辨率：0.4-0.9eV@2-5 keV
4.能量重复性：≤30 meV@24h
5.调节机构精度：能量扫描最小步长0.1eV

适用性强

满足全部常规样品测试的同时，亦可满足特殊样品测试，如磷、钾、锕系、有毒、有放射性样品等。

操作便捷

1.内置不同元素参数，快速切换测量。
2.提供标样数据库，简化分析流程。
3.支持多样品自动采集，减少进样次数。
4.远程实时监控，配备多重安全联锁设计。

国创科仪 宽能谱X射线吸收谱仪 SuperXAFS T2000

X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES）是一种用于研究材料局部结构和电子状态的非破坏性技术。该技术利用 X 射线与物质的相互作用，获取指定元素的近边吸收谱（XANES）、扩展远边吸收谱（EXAFS）和特定能带发射谱，分别用于分析元素的化学状态和价态、原子周围局部环境的配位结构，以及甄别测量元素的配位原子类别，是表征晶态和非晶态材料微观配位结构的重要手段。XAFS/XES主要应用于催化剂 、合金、陶瓷、环境污染物、各类晶态和非晶态材料及生物样品内金属离子的价态、配位结构及电子状态分析，以及材料局部结构在热场、光场、电场和磁场变化下的局部结构动态演化过程研究等。