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成都藤田科技有限公司
中级会员·1年您现在的位置： 成都藤田科技有限公司>>日本大塚Otsuka>> 日本Otsuka大塚RE-200高速相位差测量装置
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- 中国四川省成都市郫都区创智东二路58号绿地银座A座1118
- 个性化：
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产品简介
| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于世界快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的测量项目少，测量简单...
产品介绍
日本Otsuka大塚RE-200高速相位差测量装置-成都藤田科技提供
产品信息
特 点
● 可测从0nm开始的低（残留）相位差
● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于快速的0.1秒以下来处理）
● 无驱动部，重复再现性高
● 设置的测量项目少，测量简单
● 测量波长除了550nm以外，还有各种波长
● Rth测量、方位角测量
（需要option的自动旋转倾斜治具
● 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。）
测量项目
● 相位差（ρ[°], Re[nm]）
● 主轴方位角（θ[°]）
● 椭圆率（ε），方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
● 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
● 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）
原 理
● 什么是RE-200
● RE-200是光子结晶素子（偏光素子）、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能。
执行拟合/傅立叶变换以计算椭圆度 ε 和方位角 γ 。
产品规格
型号 | RE series |
|---|---|
样品尺寸 | 最小10 x 10mm ～大100 x 100mm |
测量波长 | 550nm （标准仕样）※1 |
相位差测量范围 | 约0nm ～约1μm |
轴检出重复精度 | 0.05°（at 3Σ） ※2 |
检出器 | 偏光计测模块 |
测量光斑直径 | 2.2mm x 2.2mm |
光源 | 100W 卤素灯或 LED光源 |
本体?重量 | 300(W) x 560(H) x 430（D) mm 、约20kg |
Option
● Rth测量、方位角测量※治具本体（旋转：180° 倾斜：±50°）
● 动旋转倾斜治具
日本Otsuka大塚RE-200高速相位差测量装置-成都藤田科技提供
