300KV透射电镜Spectra 300 TEM
适用于所有材料科学和半导体应用的高分辨率TEM和STEM显微镜
Spectra 300 (S)TEM的主要特点
Spectra 300 (S)TEM可配置高能量分辨率电子源
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还可配置超高亮度X-CFEG光源 提供最高分辨率的STEM成像性能
Panther STEM探头系统具有的灵敏度
先进的STEM成像能力
Spectra 300 (S)TEM灵活的能谱配置
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Current Time 0:00/Duration 0:10Loaded: 100.00%
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Spectra 300 (S)TEM的原位功能
300KV透射电镜Spectra 300 TEM
Spectra 300 (S)TEM的规格
图像矫正器 | 能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：60 pm STEM 分辨率：136 pm
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探针矫正器： | |
未校正 | 能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：100 pm STEM分辨率：136 pm
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X-FEG/单色器双校正（探针+图像矫正器） | |
X-CFEG 双校正（探针+图像校正） | |
离子源 | X-FEG Mono：高亮度肖特基场发射枪和单色器，可调谐能量分辨率范围为 1-<0.2 eV X-FEG UltiMono：高亮度肖特基场发射枪，配备超稳定单色器和加速电压，可调谐能量分辨率范围为 1eV-<0.03eV X-CFEG：固有能量分辨率<0.4 eV 的超高亮度 30 – 300 kV 的灵活高张力范围
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