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目录:赛默飞世尔科技(中国)有限公司>>透射电子显微镜(TEM)>> 最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM

最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM
  • 最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM
参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 品牌 FEI/赛默飞
  • 型号
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 上海市
属性

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更新时间:2025-07-29 20:48:34浏览次数:239评价

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价格区间 面议 仪器种类 热场发射
应用领域 环保,化工
最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM
快速、精确的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示纳米级细节,同时保持高洁净度。

最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM

最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM适用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及准确化学定量的 TEM 显微镜

Talos F200X G2 透射电子显微镜功能

可搭配众多高分辨率场发射枪 (FEG)

选择高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将 (S)/TEM 成像及能量分辨率相结合。

直观的软件

Thermo Scientific Velox 软件可实现对多模式数据的快速、轻松的采集和分析。

更短的化学成分获得周期

快速、精确的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示纳米级细节,同时保持高洁净度。

更多空间

为动态实验添加特定用途的原位样品杆。

高度可重复的数据采集

所有日常 TEM 调整、例如聚焦、共心高度、电子束移位、冷凝器光阑、电子束倾斜枢轴点和旋转中心都是自动进行的,确保您始终从最佳成像条件开始工作。实验可以能够再现的方式重复进行,从而使您能够专注于研究而非仪器操作。

更好的图像数据

高通量 STEM 成像采用同步多信号检测,可为高质量图像提供更高的对比度。

高质量 (S)TEM 图像和准确的 EDS

通过创新且直观的 Velox 软件用户界面采集高质量的 TEM 或 STEM 图像。Velox 软件中的 EDS 吸收校正功能可实现极准确的定量。  

提高了生产率

超稳定的色谱柱、借助 SmartCam 的远程操作和恒定功率物镜,可进行快速模式和高电压 (HT) 切换。多用户环境的快速轻松切换。

性能数据

HRTEM 线分辨率
  • ≤0.10 nm

STEM 分辨率
  • ≤0.16 nm (X-FEG)

  • ≤0.14 nm ,100 pA (X-CFEG)

Super-X EDS 系统
  • 4 SDD 对称设计、无窗、遮光板保护

电子能量损失光谱 (EELS) 能量分辨率
  • ≤0.8 eV (X-FEG)

  • ≤0.3 eV (X-CFEG

200 kV 下的枪亮度  
  • 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG)

  • 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)



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