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2024年
11月 -
进口现货TOKISANGYO东机产业E型锥板粘度计TV-100E
#2024年新品发布会#日期:2024年11月6日时间:8:30-18:30近期我司新推出升级了进口现货TOKISANGYO东机产业E型锥板粘度计TV-100E锥板粘度计,可让您剪切速率并执行流变分析。它被应用于许多领域,在支持日本工业的质量控制方面发挥着重要作用。触摸屏配备4.3英寸液晶彩色触摸屏,屏幕易读,操作性得到提高。多范围取决于待测样品的粘度值低粘度:L型高粘度:H型它分为两种型号。低粘度(L型)为“M”、“2.5M”、“5M”高粘度(H型)为“H”、“R”、“U”它涵盖三个量程,具有【查看全文】
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2024年
11月 -
北崎现货REVOX 莱宝克斯检测照明SLG-150V-CW-MN
#2024年新品发布会#日期:2024年9月29日时间:8:30-18:30近期我司新推出升级了REVOX莱宝克斯检测照明SLG-150V-CW-MN■标配校正功能,实现可再现的线性■配备光输出稳定(反馈)功能,即使在恶劣的使用环境下也能实现稳定的光输出■可通过各种通信方式进行外部调光(数字通信调光、串行通信调光、LAN通信调光、标配模拟通讯调光)■侧面和背面均可安装,无需空间,可节省板内空间。■通过高性能冷却机制实现超高效率驱动,最大限度地提高LED效率■LCD面板可让您直观地检查操作状态。■【查看全文】
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2024年
11月 -
#2024年新品发布会#日期:2024年9月29日时间:8:30-18:30近期我司新推出升级了SONY索尼工业相机XCG-CG40本系列数码相机搭载全球快门CMOS传感器,采用支持PoE的GigEVision接口。5.以1M、2.4M、1.6M、0.4M画大小,推出了黑白模型、彩色模型。由于与现有型号XCG-C系列尺寸相同,因此更换也很方便。通过机器视觉等图像处理,满足高可靠性、高速度、高灵敏度通过搭载全局快门CMOS传感器,可实现无失真的高速摄像。尼尼一除了具有符合IEEE1588标准外,还【查看全文】
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2024年
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北崎供应Niigataseiki新泻精机BB-180L角度仪用于机械、模具
#2024年新品发布会#日期:2024年9月29日时间:8:30-18:30近期我司新推出升级了Niigataseiki新泻精机BB-180L角度仪用于机械、模具新泻精机BB-180L角度仪是一款用于机械、模具、治具工具等的角度测量、组装和加工基准的精密角度测量器。本产品配备底面磁铁,可吸附在金属表面进行测量。它具备绝对测量(ABS)模式和比较测量模式,能够满足您不同的测量需求。开机与关闭开机:按下ON/OFF按钮,启动仪器。关机:长按ON/OFF按钮,或者让仪器自动关机。绝对测量(ABS)模式【查看全文】
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2024年
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#2024年新品发布会#日期:2024年9月29日时间:8:30-18:30近期我司新推出升级了日本SEN紫外线灯管SUV90US-43用于光表面清洗:使用短波长185nm,254nm对物体表面进行UV清洗,改质。由石英玻璃或特种石英玻璃制成。有SEN、EYE、GS、HERAEUS等多个品牌,也可根据客户的特殊需要订做。干式清洗领域:LCD用玻璃的精密清洗半导体/电子部件的精密度清洗液晶玻璃清洗表面改质领域:LCD用玻璃的表面涂层前处理树脂材料表面的接着前处理其他领域:金属表面的酸性膜处理紫外线【查看全文】
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#2024年新品发布会#日期:2024年9月29日时间:8:30-18:30近期我司新推出升级了SANKO三高电磁模拟涂层测厚仪SL-5P它用于测量细管、弯头中的薄膜等,例如无法接近的内表面、底部和底部表面。它具有探头结构,具有一个小型的两极测量杆和一个细长的导轨。测量范围0~1毫米测量精度±2μm或读数的±5%最小测量管径φ20权力AA电池(1.5V)×8,交流适配器工作温度0~40°C(非冷凝)飞机尺寸190(宽)×90(高)×120(深)毫米重量1.8千克附属品标准木板、AC适配器、肩包式【查看全文】
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2024年
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#2024年新品发布会#日期:2024年9月29日时间:8:30-18:30近期我司新推出升级了SANKO三高砂浆水分仪PM-101直流电阻。上限报警,平均值显示特征砂浆、混凝土和塑料的水分测量、控制和检查。测量不受密度、埋地钢筋等的影响。测量范围1~15%1~100(MC模式)模式切换砂浆和混凝土,石膏,MC模式平均值显示显示最多20个数据的平均值(关闭电源时删除)显示分辨率0.1%1(MC模式)显示方法LCD显示屏,带保持功能,电池电量指示闹钟设置上限设定1.5~14.5%0.5%步长可选设【查看全文】
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2024年
11月 -
#2024年新品发布会#日期:2024年9月29日时间:8:30-18:30近期我司新推出升级了SHASHIN写真化学进口供应红外吸收涂层测厚仪使用光吸收法可以测量半透明片材、低反射膜、有机硅等的厚度,这是使用光学干涉的反射光谱膜测厚仪难以做到的。这是一种可以通过显微图像光谱以高分辨率可视化薄膜厚度分布的薄膜厚度计。可以以10nm或更低的高分辨率测量显微镜视野内某个区域内透明多层薄膜的厚度分布。由于它是一种使用光学干涉法的反射光谱方法,因此很容易获得0.1nm或更小的膜厚精度。【查看全文】