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SHASHIN写真化学原装供应红外透射膜厚仪
2024-11-2 阅读(103)
# 2024年新品发布会#
日期：2024年9月29日
时间：8：30-18：30
近期我司新推出升级了SHASHIN写真化学原装供应红外透射膜厚仪
红外透射膜厚度监测器可测量电池隔膜等半透明片材、黑色光刻胶等低反射膜和硅的厚度。 它是一种红外吸收涂层测厚仪，可应用于从实验室级别到生产过程中的在线检查的所有情况。
它是一种红外薄膜测厚仪，采用由紧凑型镜面探头组成的透射光学系统，可通过同时测量 100 多个波长的光谱仪，准确测量薄膜厚度、密度、成分等多个参数。
1测量半透明片材、
低反射膜、硅等的厚度，这在光学干涉测量法中是困难的
2微型光纤探头
由于使用了 30 毫米的小型反射探头，
它可以安装在设备或生产线的狭小空间内。
此外，由于探头仅通过
光纤连接到主机，因此具有出色的耐环境性。
3高速测量：
在
100 个点或更高处同时采样 950~1650 nm 的近红外波长
可实现短至 1 毫秒的高速采样。
可以在生产线上进行实时检测和测量。
由于干涉滤光片不旋转，因此具有出色的耐用性和可靠性。
