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扫描电子显微镜 Verios XHR SEM

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更新时间：2024-10-25 12:34:34浏览次数：279次

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产品简介
Verios是FEI的XHR（分辨率）SEM系列的第二代产品

详情介绍


Verios 是 FEI 的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代产品。在半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。

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