当前位置:艾博纳微纳米科技(江苏)有限责任公司>>转移台>>全自动转移台>> ABN-SAMPLE-001艾博纳全自动二维样品转移台
艾博纳全自动二维样品转移台由金相明暗场显微系统、六轴转移台、多轴运动控制器、以及真空吸附部件、0.01度的超高精度加热台等部分组成。样品台可高达0.001度精度的大角度或小角度旋转,是研究异质结特性、空间反演对称性破缺以及二维材料的不同堆叠方式影响等的有力工具。在摇杆与电脑软件的控制下,可以操控转移台100nm的高精度细微操作,精确控制样品转移。
此外,艾博纳还为科研人员提供大量快速更换的配置选项,包括高低温电动探针台、光纤端面材料转移模块、样品台高温以及极低温模块、快速升降温模块等,同时也支持在手套箱内使用环境进行安装使用。如需采用奥巴斯或者尼康显微镜可以直接支持定制,我们解决此配套所有CCD相机软件以及显微镜硬件衔接。任何和转移相关的其他定制需求我们都可以尽全力完成并服务好。
使用方法
1. 设备安装与初始化
安装底座:将转移台固定在防震平台上,确保水平(使用水平仪校准);
连接控制模块:通过USB/RS-232接口连接电机驱动器与上位机;
电源启动:接通24V直流电源,观察指示灯状态(绿灯常亮表示就绪);
回零操作:在控制软件中执行“Home"命令,使平台自动复位至机械原点。
2. 软件操作流程
载入控制软件:打开专用控制程序(如Thorlabs APT或自行开发的LabVIEW界面);
坐标设定:输入目标位置(分辨率通常为0.1μm~1μm),支持绝对/相对移动模式;
运动控制:点击“Move"启动平移,实时监控位置反馈信号;
多位置预设:保存常用坐标点(如A1、B2等),支持一键跳转。
3. 安全注意事项
负载限制:最大承载重量需≤5kg(超载可能损坏丝杠);
行程保护:设置软件限位(如X轴±50mm),避免机械碰撞;
紧急停止:熟悉红色急停按钮位置,突发异常时立即切断电源。
艾博纳全自动二维样品转移台的产品特点:
1.100-200纳米高精度定位
2.自动化样品搬运和定位
3.可通过操作界面直接设定样品的目标位置、移动路径和速度等参数
4.与各种实验设备和分析仪器兼容
5.结构设计优化,减少了由于机械振动或热膨胀引起的误差,保证了长期运行的稳定性和可靠性
6.外壳设计,避免在自动移动过程中对样品或设备造成损害
7.适用于各种二维材料,包括单层和多层结构
8.自动记录转移位置和参数,方便后续分析和报告生成
产品部件:
1.移动平台(X-Y-Z轴平台)
精密线性导轨和滑块:确保平台沿X和Y轴的平滑、精确移动。
步进电机:驱动移动平台,控制位置和速度。
电动升降台:确保平台沿Z轴的稳定精确升降
2.控制系统
控制器:核心处理单元,用于接收指令、处理数据并控制移动平台的动作。
软件界面:我们配备控制软件、设定移动路径、速度和位置,以及其他操作参数。
3.传感器
位置传感器:用于精确测量和反馈平台位置。
速度传感器:监测和调整移动速度。
4.样品固定装置
真空吸盘和夹具:用于固定样品,确保在移动过程中的稳定性。
5.结构组件
光学平台:支撑和固定移动平台及其他组件,确保整体结构的稳定性和耐用性。
6.安全装置
外壳:保护操作人员免受移动部件伤害,防止尘埃和杂物进入设备内部。
7.通信接口
数据端口(USB):用于与计算机或其他控制系统的数据交换。
8.传动系统
丝杆和皮带传动:将电机的旋转运动转换为平台的直线运动。
10.附件和可选组件
显微镜:用于实时监控样品的位置和状态。
定制夹具:根据特定样品的需求定制的夹具或支架。
本图片来自艾博纳微纳米科技(江苏)有限责任公司提供的 全自动二维样品转移台,型号为 全自动二维样品转移台的艾博纳光学仪器及设备,产地为中国大陆江苏,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的艾博纳光镊系统、艾博纳Keithley 2636B 双通道源表等仪器。
操作教程(以显微镜样品扫描为例)
步骤1:样品装载
打开样品夹具,将载玻片轻放入卡槽,旋紧固定螺丝(扭矩≤0.5N·m);
在软件中设置载玻片尺寸(如25mm×75mm),划定扫描区域。
步骤2:自动扫描程序设置
网格划分:设定扫描步长(如10μm),系统自动生成X-Y网格点阵;
时序控制:配置每点停留时间(如200ms),同步触发相机拍摄;
数据保存:关联图像存储路径,文件名自动按坐标命名(如X100Y203.jpg)。
步骤3:执行与监控
启动扫描,观察平台运动平稳性(异常振动需立即暂停);
实时查看图像拼接预览,确保无漏拍或重叠。
维护要点
1. 日常维护
清洁导轨:每周用无尘布蘸取无水乙醇擦拭直线导轨,去除灰尘与油污;
润滑保养:每3个月涂抹微量锂基润滑脂于丝杠和轴承(用量≤0.1ml);
电气检查:每月检查线缆接口是否松动,避免信号中断。
2. 定期校准
定位精度校准:使用激光干涉仪或标准光栅尺,每半年进行一次精度验证(误差>1μm需重新补偿);
重复性测试:在相同坐标点往返移动10次,统计标准差应<±0.3μm。
应用场景示例
半导体检测:自动定位晶圆缺陷坐标,配合探针台进行电性测试;
活细胞成像:长时间追踪细胞运动轨迹,Z轴叠加实现3D重构;
材料划痕测试:按预设路径施加机械载荷,同步记录力学响应数据。