目录:上海首立实业有限公司>>物理性能测试仪器>>材料试验机系列>> XP204 分析天平
| 规格 - XP204 分析天平 | |
| zui大称量值 | 220 g |
| 可读性 | 0.1 mg |
| Minimum weigh typical acc. USP | 120 mg |
| Minimum weigh typical, U=1%, sd=2 | 8 mg |
| 去皮范围 | 0...220 g |
| 重复性 | 0.05 - 0.07 mg |
| 线性 | 0.2 mg |
| 偏心负载 | 0.25 mg |
| 内部砝码校准 | ProFACT专业全自动校准技术专业级全自动校准技术, 温度漂移和时间触发的全自动内校 |
| 外部砝码校准 | 用户砝码 |
| 灵敏度精度 | 3.0 x 10^-6 •Rnt |
| 灵敏度稳定性 | 1 x 10^-6/a •Rnt |
| 色nsitivity off色t | 3x10-6·Rnt |
| 灵敏度（温度取样泵漂移） | 1 x 10^-6/°C •Rnt |
| 稳定时间 | 1.5 s |
| 接口 | RS-232C |
| 尺寸 | 263x487x322 mm DxH |
| 防风罩可用高度 | 235 mm |
| 秤盘尺寸 | 78 x 73 mm |
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