目录:上海首立实业有限公司>>物理性能测试仪器>>材料试验机系列>> XP56 微量天平
| 规格 - XP56 微量天平 | |
| zui大称量值 | 52 g |
| 可读性 | 1 µg |
| Minimum weigh typical acc. USP | 2.1 mg |
| Minimum weigh typical, U=1%, sd=2 | 0.14 mg |
| 去皮范围 | 0 - 52 g |
| 重复性 | 1.5 µg |
| 线性 | 20 µg |
| 稳定时间（典型） | 3.5s |
| 内部砝码校准 | ProFact, 温度漂移和时间触发的全自动内校 |
| 外部砝码校准 | 可选 |
| 色nsitivity off色t | 2.5x10-6·Rnt |
| 灵敏度（温度取样泵漂移） | 1x10-6/°C·Rnt |
| 灵敏度（长时间稳定） | 1x10-6/a·Rnt |
| 接口 | RS-232C, Bluetooth, Ethernet, PS2, LocalCAN |
| 秤盘尺寸 | 40x40 mm |
| 称量盘上方的有效高度 | 111 mm |
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