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北京百纳创业科技有限公司>>分析仪器>> BN/CH-1-S薄膜测厚仪

薄膜测厚仪

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参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号 BN/CH-1-S
  • 品牌 其他品牌
  • 厂商性质 经销商
  • 所在地 北京市
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更新时间:2024-09-04 14:01:55浏览次数:102

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产品简介

应用领域 综合 精度 3um
薄膜测厚仪 型号:BN/CH-1-S

一、产品概述


本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适合用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB/T6672-2001标准。

二、主要技术参数

1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下测量面为平面时,测量面对试样施加的负荷为0.5N到1.0N之间

详细介绍

薄膜测厚仪 型号:BN/CH-1-S

薄膜测厚仪

一、产品概述


本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适合用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB/T6672-2001标准。

二、主要技术参数

1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下测量面为平面时,测量面对试样施加的负荷为0.5N到1.0N之间。
3、上下测量面为凸/平面时,上测量面的曲率半径在15-50(mm)时,其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间。
4、测量精度
100um以内 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

三、使用方法
1、测试前转动表盘让指调到零位,并试行按动捏手几次,回零后方可测试。
2、使用时按下捏手使测头升起,将被测物件放于上下测头之间,轻放捏手使之接触,此时读数即为被测试样的厚度。
3、为使测试准确,可在同一被测物的不同位置进行测量,取其平均值。
4、使用完毕,应将一起擦净,装入仪器盒,放置干燥处,放置受潮

一、产品概述


本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适合用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB/T6672-2001标准。

二、主要技术参数

1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下测量面为平面时,测量面对试样施加的负荷为0.5N到1.0N之间。
3、上下测量面为凸/平面时,上测量面的曲率半径在15-50(mm)时,其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间。
4、测量精度
100um以内 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

三、使用方法
1、测试前转动表盘让指调到零位,并试行按动捏手几次,回零后方可测试。
2、使用时按下捏手使测头升起,将被测物件放于上下测头之间,轻放捏手使之接触,此时读数即为被测试样的厚度。
3、为使测试准确,可在同一被测物的不同位置进行测量,取其平均值。
4、使用完毕,应将一起擦净,装入仪器盒,放置干燥处,放置受潮


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