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| 应用领域 | 综合 | 漂移 | ≤±0.5%FS |
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性能特点
对被测数据采用单片机技术进行分析处理，了测量数据的精度。
对误操作及错误、干扰信息具有判断、提示、报警功能。
检测元件在恒温环境下工作，了仪器高稳定性，并使仪器更快的进入到正常工作状态，减小了机内外温度变化对数据稳定性的影响。
仪器的自动排液、打印、上下标自动翻转等功能，减少了操作，方便使用。
产品简介
详细介绍
智能硅酸根分析仪型号：BN/GXF-221
智能硅酸根分析仪
性能特点
对被测数据采用单片机技术进行分析处理，了测量数据的精度。
对误操作及错误、干扰信息具有判断、提示、报警功能。
检测元件在恒温环境下工作，了仪器高稳定性，并使仪器更快的进入到正常工作状态，减小了机内外温度变化对数据稳定性的影响。
仪器的自动排液、打印、上下标自动翻转等功能，减少了操作，方便使用。
被测数据的存储打印功能。
仪器具备故障自诊断功能。
配备数据通讯接口（选配）。硅酸根分析仪
测量范围 0~200.0μg/SiO2
基本误差 ≤±2.0%FS
重复性误差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
长期漂移 ≤±2.0%FS
化学方法 硅钼兰光度法
电源/功率 220V/45W
性能特点
对被测数据采用单片机技术进行分析处理，了测量数据的精度。
对误操作及错误、干扰信息具有判断、提示、报警功能。
检测元件在恒温环境下工作，了仪器高稳定性，并使仪器更快的进入到正常工作状态，减小了机内外温度变化对数据稳定性的影响。
仪器的自动排液、打印、上下标自动翻转等功能，减少了操作，方便使用。
被测数据的存储打印功能。
仪器具备故障自诊断功能。
配备数据通讯接口（选配）。硅酸根分析仪
测量范围 0~200.0μg/SiO2
基本误差 ≤±2.0%FS
重复性误差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
长期漂移 ≤±2.0%FS
化学方法 硅钼兰光度法
电源/功率 220V/45W
