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| 应用领域 | 综合 |
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该仪器是在WLP－205仪器基础上增加了一套压力校正器。在测试中采用该校正器可使粉料很容易的压紧到规定的压力上（国际通用50磅力·吋即22.7kgf·cm）,从而使测试更加简便、性能稳定、重复性好，其他主要技术指标与WLP－205型粒度测定仪相同。
产品简介
详细介绍
平均粒度测定仪型号：BN/WLP－208
平均粒度测定仪
该仪器是在WLP－205仪器基础上增加了一套压力校正器。在测试中采用该校正器可使粉料很容易的压紧到规定的压力上（国际通用50磅力·吋即22.7kgf·cm）,从而使测试更加简便、性能稳定、重复性好，其他主要技术指标与WLP－205型相同。
主要技术指标
1、粒度测量范围：0.2μm(微米)─50μm(微米)
2、孔隙度范围：0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95
3、精度：3％
4、工作环境：相对湿度不大于80％，温度：25±10℃
5、电源：∽220±22v50-60Hz
6、功率：30w
7、重量：28Kg
8、外型尺寸：735×414×244mm3
该仪器是在WLP－205仪器基础上增加了一套压力校正器。在测试中采用该校正器可使粉料很容易的压紧到规定的压力上（国际通用50磅力·吋即22.7kgf·cm）,从而使测试更加简便、性能稳定、重复性好，其他主要技术指标与WLP－205型粒度测定仪相同。
主要技术指标
1、粒度测量范围：0.2μm(微米)─50μm(微米)
2、孔隙度范围：0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95
3、精度：3％
4、工作环境：相对湿度不大于80％，温度：25±10℃
5、电源：∽220±22v50-60Hz
6、功率：30w
7、重量：28Kg
8、外型尺寸：735×414×244mm3
