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| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 电子/电池,电气 |
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产品简介
详细介绍
产品介绍：
HAST Chamber又名HAST高压加速寿命老化试验箱，用于车规级芯片，IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，测试其制品的密封性和老化性能。
产品别名：
UHAST, 高加速稳态湿热应力试验箱, 高压蒸汽试验箱, 不饱和高压蒸汽的恒定湿热箱,BHAST。
一、满足试验标准：
AEC Q101（车规级芯片）
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热
JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命
JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）
JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）
JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命
JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验
JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
二、应用领域：
PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片……
HAST高压加速寿命老化试验箱特点：
1.内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
2.产品满足JESD22-A100至A118偏压（BHAST）或不偏压（UHAST）加速抗湿性试验以及饱和高压蒸汽（蒸煮）试验。
3.产品兼容高加速温湿度应力HAST老化试验和高压蒸煮PCT抗湿性试验。
主要技术参数 | |||
型号 | NWT-HAST-35 | NWT-HAST-40 | NWT-HAST-55（可定制） |
内容积（L） | 35L | 40L | 55L |
内箱尺寸(ΦxD) 直径x深(mm） | 350x450mm | 400x550mm | 550x650mm（可定制大于这个尺寸） |
外箱尺寸(WxDxH) 宽深高(mm) | 700x1000x1710mm | 700x1000x1710mm | 850x1150x1760mm |
功率 | 2.8KW | 3.2KW | 4KW |
重量 | 252KG | 285KG | 358KG |
电源 | AC220V 50/60Hz | ||
温度范围 | +100℃～+156℃; | ||
温度波动度 | ≤±0.5℃. | ||
温度均匀度 | ≤±0.5℃. | ||
湿度范围 | 65%～100 %R.H . | ||
湿度波动度 | ≤±2 %R.H. | ||
湿度均匀度 | ≤±3 % R.H. | ||
压力范围 | 0.2～3㎏/㎝² (0.018～0.294 MPa) （箱内压力）；（可定制大于此压力机型） | ||
升温时间 | 常温～+ 155℃ 约45 min . | ||
升压时间 | 常压～+ 3㎏/㎝² 约35 min. 外部气源加压：约5 min | ||
偏压端子 | 含偏压端子（选配订购时需注明） | ||
压力偏差 | ≤±2Kpa | ||
循环方式 | 磁流体密封件+风叶强制对流循环方式。 | ||
加压方式 | 1.锅炉蒸汽加压；2外部气体加压 | ||
分辨率 | 温度±0.1℃,湿度±0.1%R.H. 压力0.01㎏/cm2，0.01min | ||
温度、湿度、 压力范围 |
| ||
保温围护结构 | 内胆：优质SUS316锈钢；外壳;轧钢板+双面静电喷塑工艺处理；内胆保温材料：超细玻璃棉。 | ||
燥音 | ≤60（dB） | ||
控制器 | 7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度曲线，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据） | ||
使用条件 | 环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa | ||
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