NITTOSEIKO日东精工 材料体积电阻率计MCP-HT800

NITTOSEIKO日东精工 材料体积电阻率计MCP-HT800

用途：

Hiresta-UX 是一款测量电阻率的测量仪器，电阻率是材料的评估标准之一。

通过测量各种高电阻材料的表面电阻率和体积电阻率，有助于生产技术、质量管理、研究开发。

研究开发防静电材料，生产线质量控制，或是先进材料的表面电阻率和体积电阻率，都可以简单而精确地测量出来。

本装置是以JIS K6911为基准的测定法，通过各种探针可以测定塑料、薄膜、涂料等广泛的材料。

为了稳定测量106Ω以上的高电阻材料，适合用双重环测量。

本公司的探针采用双环形电极。

NITTOSEIKO日东精工（原 三菱化学） 电阻率系列

型号

MCP-T380

MCP-T710

MCP-PD600

MCP-S330

MCP-S620

MCP-S521

MCP-HT800 

URS 探头RMH214、RMH327

URS 探头：MCP-HTP14 探头检查器：MCP-TRURS

UR 探头RMH212

URSS 探头RMH215

UR100 探头RMH216

UA探头RMH211

URS 探针夹具RMJ360

J盒 X型：RMJ351    W165✕D150✕H95 mm

UFL：RMJ354   W300✕D200✕H10 mm

脚踏开关 X 型：RMJ802

探针检查器

RMH326

RMH328

RMH325

MCP-T710低阻电阻率计

用途

Loresta-GXII是一款测量电阻率的测量仪器，电阻率是材料的评估标准之一。

随着科学技术的发展，在研发、生产技术、质量控制等领域，越来越需要能够轻松、快速、日益严格、高精度地管理材料。

其中，电阻率（表面、体积、电导率）是表示材料状态和性能的指标。

Loresta-GXII 是一种可以使用校正系数轻松准确地测量电阻率的设备。

该装置采用符合JIS K 7194的测量方法，可以使用各种探头测量导电塑料、ITO薄膜和硅晶片等多种材料。

与传统的4端子法不同，无需为测量对象准备电极，使用本公司提供的各种4点探头即可一键测量电阻率。

主要测量目标

导电塑料、电磁屏蔽材料、硅片、导电橡胶、

导电涂料、浆料、油墨、金属薄膜、ITO玻璃、薄膜等。

特征

可以随时随地以高精度测量低电阻区域的表面电阻率、体积电阻率（比电阻）和电导率。

与Loresta GP（10 -3至 10 7 ）相比，测量范围从 10 -4扩大至 10 7 Ω

通过改变电流方向即可测量硅片

恒定电流可变功能（可使用微小电流进行样品测量）

可输出2000个测量结果至USB存储器

通过触摸屏提高操作性