15522041291
当前位置：天津瑞利光电科技有限公司>> 美国Semicansoft薄膜测量系统MProbe 20
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 电子/电池,道路/轨道/船舶,汽车及零部件,电气 |
|---|
Semicansoft薄膜测量系统MProbe 20
产品型号：MProbe 20
产品介绍
MProbe 20是一种用于全球数千个应用的薄膜厚度测量台式系统。它只需单击鼠标即可测量薄膜厚度和折射率。可以快速可靠地测量1nm至1mm的厚度，包括多层膜堆叠。不同的MProbe 20模型主要通过光谱仪的波长范围和分辨率来区分，这反过来决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。该测量技术基于光谱反射——快速、可靠且无损。
性能特点
l 灵活：模块化薄膜厚度测量系统：为您的应用选择更好配置，并在需要时轻松升级
l 精度：<0.01nm或0.01%
l 材料：500+扩展材料数据库
l 软件：用户友好且功能丰富的TFCompanion软件甚至可以处理复杂的应用程序。层数无限制，支持背面反射率、表面粗糙度、暗度等。
l 集成：轻松集成TCP服务器
l 实时、一键测量和分析
l 测量历史：调用/显示测量结果和统计数据
技术参数
产地：美国
精度：＜0.01nm或0.01%（在200nm氧化物上进行100次测量的s.d.）
<1nm或0.2%（依赖于胶片堆栈）
稳定性：＜0.02nm或0.2%（20天，每天测量）
测量厚度：1nm至1mm
光斑尺寸：<1mm
样品尺寸：>=10mm
主机：包括光谱仪、光源、光控制器微处理器
样品台：SH200A
探头：光纤反射
测试样品：200nm氧化硅或PET薄膜
电缆：USB或LAN
电源适配器：24VDC
电压：110/220V
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，化工仪器网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
化工仪器网