RIFTEK 3D激光分选机RF1010SS 返回列表页

产品名称：RIFTEK 3D激光分选机RF1010SS

产品型号：RF1010SS

产品介绍

该测量机专为非接触式测量物体的几何参数而设计，特别是向日葵种子，是一个独立的软件/硬件系统。可以针对特定任务更改机器的技术特性。该机器的工作基于物体/物体的 3D 激光扫描原理，随后构建 3D 计算机模型并根据模型确定几何参数。

机器正确运行的必要条件如下：

种子不应相互接触，因此间隙的大小须使得当激光束落在种子之间时，光束应照亮扫描区域。

种子不应接触桌子周边的限制性踢脚线。

性能特点

l 扫描仪使用 w. 660 nm 波长半导体激光器。

l 输出功率为 5 mW。

l 几何参数测量周期自动化，机器操作减少到程序工作。

l 该程序确保：

机器在操作过程和调试模式中的控制，

­从扫描仪接收数据并构建 3D 模型

数学计算

输入排序参数

结果记录

控制机器状态

控制 LED 指示

机器校准

产品结构与细节

该机器的工作基于物体/物体的3D激光扫描原理，随后构建3D计算机模型并根据该模型确定几何参数。机器结构设计如图1所示。机器由一个工作台1组成，工作台上有一个框架结构2和一个侧面3。在引导件3上安装有带有激光扫描器5的托架4。滑架4由步进电机6通过滚珠丝杠组件（未示出）驱动。在滑架4的极限位置上设有限位开关（未示出）。指示第七单元安装在框架结构2上。在机器的侧板上有一个电源连接器8（220V）和两个用于以太网连接的网络插座9。机器与PC 10的连接是通过网络交换机11实现的。扫描器5的激光辐射12被形成线13，并且被投影到要控制的物体所在的台1上。激光线的长度与工作台的宽度相对应。位于台上的物体的轮廓（截面轮廓）的结果图像由扫描器信号处理器分析，扫描器信号处理器计算沿着物体上的基线（点的X坐标）的多个点中的每个点到物体的距离（点的Z坐标）。

技术参数

产地：白俄罗斯

扫描范围，Y轴： 400 mm

扫描范围，Z轴：300 mm

扫描范围Х（测量Z轴开始）：130 mm

扫描范围Х（测量Z轴末端）： 240 mm

测量精度，X，Z轴：±150 um

测量精度，Y轴：±20 um

采样率：250 profiles/s

速度：25 mm/s

电源：交流电源，采样率（50±1）Hz，额定功率220，许用应力±10%。

功耗：50 W

环境温度：+1..+350℃

相对湿度：25-65%

尺寸：730×415×180 mm

重量：40 kg

产品尺寸