Particle Metrix纳米粒子跟踪分析仪 返回列表页

Particle Metrix纳米粒子跟踪分析仪ZetaView

产品型号：ZetaView

产品介绍

Particle Metrix在其久经验证的平台PMX-x30上提供了ZetaView纳米粒子跟踪分析的多功能性，使仪器可以从一个激光器升级到四个激光器。405488520或640nm激光之间以及散射和荧光模式之间的变化是自动的。

在标准NTA或Z-NTA表面电荷电泳模式中记录发射散射光或荧光的颗粒的运动和图案。PMX-x30系列的新设计带有固定单元组件，将增强的性能和可靠、测量与简单、快速、轻松的仪器清洁相结合。

性能特点

l 扫描NTA-通过样品池在11个位置进行自动测量，提供稳健的性能，而不需要额外的附件。

l 固定单元组件设计-大大提高了性能，减少了出错的可能性。

l 自动对准和自动对焦-光学设置由软件自动优化，节省了用户准备仪器使用的时间，并消除了用户主观输入的偏见。

l 快速测量-在60秒内分析2000多个颗粒。

l 快速简单的清洁-样品之间的清洁只需要快速冲洗。新的固定单元设计允许使用卡口锁快速访问测量单元。

l 直观的软件-红绿灯系统可以即时指示样品是否处于适合测量的浓度，并指示样品的稀释系数。

l 紧凑的一体化设计-使用一台仪器测量尺寸、浓度、电位和荧光。兼容实验室环境小占地面积和数据文件。

l 荧光分析-荧光NTA测量允许询问样品中的亚群体。一个灵敏的CMOS相机，多达11个选择性滤波器，低漂白性能产生高荧光灵敏度。

l 没有高成本耗材，只有注射器和散射和荧光测量的参考标准（如果适用）。

l 无需校准-尺寸测量不需要校准。

技术参数

产地：德国

扫描：电动

扫描速度：不到1分钟的时间内采集和分析2000个粒子

测量：极性液体（如水、醇）中的纳米粒子，用于尺寸、浓度、荧光和zeta电位研究

浓度范围：105-109粒/毫升

粒度：10nm-2000nm（取决于样品和激光）

精度：+5nm（适用于100nm聚苯乙烯胶乳）

再现性：t2nm（适用于100nm聚苯乙烯胶乳）

可用激光波长：405nm、488nm、520nm、640nm、660nm

典型激光功率：>30mW

相机类型：CMOS

滤波器：11个