COSMOS-1X-COSMOS-1X型荧光X线镀层测厚仪（膜厚計）_测厚仪系列-上海首立智慧科技有限公司

COSMOS-1X型荧光X线镀层测厚仪（膜厚計）返回列表页

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产品型号COSMOS-1X

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更新时间：2023-07-26 18:40:17浏览次数：784次

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COSMOS-1X型荧光X线镀层测厚仪（膜厚計）

                                                          ●Windows下中文操作界面
                                                          ●紧凑小巧，低成本
                                                          ●解析度0.001μm
                                                          ●zui小测量面积0.1mm?
                                                          ●可测量合金层的厚度以及成分比例
                                                          ●对于多层镀层可测量每一层精确厚度
                                                          ●可通过X线进行元素光谱分析
                                                          ●适用对象：IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业

各机型规格参数：

机型			手动测量台
测量主体	测量台尺寸（mm）		170＊110
	移动量	X（mm）	70
		Y（mm）	70
		Z（mm）	50
	测定物zui大高度（mm）		45（可调整）
	尺寸（mm）		362（W）＊425（D）＊486（H）
	重量（kg）		44.2
	样品zui大何重（kg）		3
电源			AC100V±10V（option AC115V、AC230）

仪器特点：

      搭载MS-WINDOWS系统（*的操作性与高精度测定）与IBM PC个人电脑相容
      准值器5种孔径内藏式：
          zui小的准值仪孔径仅0.1 mm，可测定极微小的部品。
              标准：0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。
                    0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
                    0.05＊0.5,0.1,0.2,0.3,0.5
      小型化设计：占体积小，采购成本低，适用于小型工件。
      *的显示功能：能显示测量具体位置，可将照片打印输出。
      充实测量报告的作成功能：多种统计功能，轻松提供完善的测量报告。
      自我诊断功能及X线管保养功能：让您时刻了解仪器使用情况，方便保养维护。