| 产地类别 |
国产 |
应用领域 |
环保,化工,能源,电子/电池,综合 |
日本otsukael 显微分光膜厚仪OPTM系列
OPTM 是一种通过使用显微镜光谱测量微小区域的绝对反射率来实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。
各种薄膜、晶圆、光学材料等镀膜、多层膜厚度的无损、非接触测量。可以进行1秒/点的高速测量。此外，它配备了软件，即使是初次使用的用户也可以轻松分析光学常数。
日本otsukael 显微分光膜厚仪OPTM系列
日本otsukael 显微分光膜厚仪OPTM系列的介绍
深圳九州工业品有限公司成立于2016年，坐落于年轻奋进的深圳市，是一家工业品综合服务商。主要包括机电设备、电子产品、仪器仪表、工业器材的销售及其它国内贸易、经营进出口等业务。联合国际名品牌搭建工业品供应链，采用与 MRO分销商结盟的方式，把零散采购订单集中处理，流程简化，提供一站式供应服务。在美国、德国、日本、韩国、中国台湾建立采购中心，以流的专业国际采购团队、技术顾问、销售团队为各种领域提供各类高品质的工业产品和优质的整合服务。通过与厂家建立快捷、有效的沟通，和众多国外生产厂家建立了长久合作伙伴关系。
OPTM 是一种通过使用显微镜光谱测量微小区域的绝对反射率来实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。
各种薄膜、晶圆、光学材料等镀膜、多层膜厚度的无损、非接触测量。可以进行1秒/点的高速测量。此外，它配备了软件，即使是初次使用的用户也可以轻松分析光学常数。
膜厚测量所需的功能集成在测量头中
使用显微光谱法进行高精度绝对反射率测量（多层膜厚度、光学常数）
每点1秒以内的高速测量
实现显微镜下宽测量波长范围（紫外到近红外）的光学系统
区域传感器安全机制
一个简单的分析向导，即使是初次使用的用户也可以进行光学常数分析
配备可自定义测量顺序的宏功能
也可以分析复杂的光学常数（多点分析法）
300mm载物台兼容
支持各种自定义
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