目录:赛默飞电子显微镜>>透射电子显微镜（TEM）>> 半导体计量透射电镜 Metrios AX TEM
| 价格区间 | 面议 | 仪器种类 | 热场发射 |
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| 应用领域 | 环保,化工 |
半导体计量透射电镜 Metrios AX TEM主要特点
全新设计，提供可重复的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和具备计量能力的计量器。
TEM 和 STEM 失真和放大率校正的组合误差小于 0.75%。
通过自动化获取和量化 EDS 数据。使用关键尺寸元件对比度来扩展 STEM。
通过样品制备、提取和成像跟踪关键工艺数据。计量可离线应用，从而极大增加工具采集时间。所有成像和计量数据均整合在基于网络的图像查看器中。
高压范围 (kV) | 60-200 kV | |
信息限度 200 kV (nm) | 0.11 | |
未校正 | 探头校正* | |
STEM HAADF 分辨率 (nm) 200 kV |
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STEM HAADF 分辨率 (nm) 80 kV |
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用于水平和垂直的 MetroCal 晶片的计量精密度 |
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电子源 |
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超稳定电子设备和高压 |
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隔音罩 |
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恒定功率透镜 |
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压电载物台 |
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探头校正器兼容 |
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