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赛默飞电子显微镜

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聚焦半导体失效分析:同“芯”协力云上课堂第三讲

阅读:108      发布时间:2023-3-16
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 全国两会,集成电路再次成为焦点热议。“集成电路”作为战略性、基础性、先导性产业引发众多关注与建言。国务院副总理刘鹤、工信部副部长辛国斌、国资委主任张玉卓等皆提及“集成电路”、“芯片”等关键词。

国务院副总理刘鹤更是强调:发展集成电路产业必须发挥新型举国体制优势,用好政府和市场两方面力量。

为了能跟更好的助力半导体企业提高良率,电子显微镜检测分析是半导体工业领域的显微分析的重要手段。赛默飞将于2023年3月23日举办同“芯”协力云上课堂,与半导体业内人士一起来一场电镜技术相关的线上面对面的探讨交流。

 

简单/高效/智能

 

——聚焦半导体行业TEM样品制备方法

及失效分析应用

 

 

本报告以电镜分析作为基石,从物性失效分析的基本流程和前沿应用出发,重点介绍 电镜在逻辑电路、存储器件、芯片封装、显示面板、第三代半导体等领域的应用优势。


扫描透射电镜

—— 贯穿半导体工业“设计研发”—“过程控制”—“失效分析”的全能专家


本次报告将结合半导体行业的应用案例详细介绍常用于,如化合物半导体、逻辑电路、存储器件、显示器件等,各类半导体器件结构的结构表征、成分分析和失效分析等TEM表征技术,以及目前先进TEM技术及中高端扫描透射电子显微镜在半导体工业设计及研发方面的应用。

 

会议时间

2023年3月23日14:00-15:30

参与方式

 

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