赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160ERSeries简介：

   1.X-RAYINSPECT*TEM：

   搭载Micro-focusOpenTube(160kV)和FlatPanelDetector，可获取高清晰，高倍率图像，可灵活应用在分析及工艺流程检中的缺陷检查。此外，通过特别的减震机构，可稳定且快速的分析不良产品。可稳定的实现2.5DTilt检测，也可以根据用户及各种Application选择不同Option。

   2.X-raySimple&Easy2.5D：

   1）Max可实现900x900mm的Tablesize，可检测大型PCB和LED。

   2）通过采用双臂支撑的Z轴结构方式，可轻松解决震动引起的图像残影问题。

   3）Detector倾斜角度最大可达70°,可通过Rotation轴轻松获取2.5D图像。

   4）通过DetectorR轴结构的改善增加了检测区域及机构的稳定性。

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