hast寿命试验箱 返回列表页

hast高压加速老化试验箱设备特点：

1)采用进口耐高温电磁阀双路结构，降低了使用故障率。

2)独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3)门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4)试验前排冷空气；试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

5)超长效实验运转时间，长时间实验机台运转400小时.

6)水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.

7)tank耐压设计，箱体耐压力(150℃)2.65kg，符合水压测试6kg.

8)二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

9)安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮 .

10)偏压测试端子耐压可达3000V(选配）

11)USB导出历史记录数据，曲线.

hast蒸汽老化试验箱用途：

加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。

hast寿命试验箱（Highly Accelerated Stress Test），也叫做快速老化试验箱，是一种常用的电子元器件可靠性测试设备。它主要用于模拟高温高湿环境下的加速老化条件，以评估电子元器件在环境下的可靠性和寿命。

hast寿命试验箱采用高压饱和蒸汽的方式，将样品置于高温高湿环境中，并施加一定的电气应力，以模拟真实环境中的潮湿条件。通过加速老化过程，可以在相对较短的时间内观察到可能会发生的故障和退化现象，从而提前检测和改善电子元器件的可靠性。

在HAST寿命试验中，样品通常放置在密封的试验室中，具有温度和湿度控制功能。试验箱还可能包括振动或机械应力等其他环境因素，以更准确地模拟真实工作环境。

HAST寿命试验箱广泛应用于电子元器件、半导体芯片、集成电路等领域的可靠性测试中。通过该设备，制造商可以评估产品在高温高湿环境下的性能和寿命特性，优化产品设计和生产工艺，提高产品质量和可靠性，以满足市场需求和用户期望。