深圳市矢量科学仪器有限公司

离子研磨系统

参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准

产品型号customized

品牌Hitachi/日立

厂商性质经销商

所在地深圳市

更新时间:2024-09-06 10:48:40浏览次数:817次

联系我时,请告知来自 化工仪器网
产地类别 进口 出料粒度 0.01-0.5mm
价格区间 面议 样品适用 多种样品
仪器种类 研磨机 应用领域 能源,电子/电池,汽车及零部件,电气,综合
离子研磨系统 产品概述:
为了对样品内部结构进行观察、分析,必须让样品内部结构显露出来,日立离子研磨装置使用大面积低能量的Ar离子束,加工出无应力损伤的截面,为SEM观察样品的内部多层结构、结晶状态、 异物解析、层厚测量等提供有效的前处理方法。

一、产品概述:

离子研磨系统是一种用于样品表面精密处理的设备,利用离子束对材料表面进行刻蚀和抛光。该系统广泛应用于材料科学、电子工程及显微镜样品制备等领域,能够实现高质量的表面平整度和光滑度。

二、设备用途/原理

·设备用途

离子研磨系统主要用于制备电子显微镜样品、改善材料表面的特性以及去除表面缺陷。工程师和研究人员可以利用该系统进行材料的表面分析和处理,以确保样品在后续测试中的可靠性和准确性。

·工作原理

离子研磨系统通过产生高能离子束并将其聚焦到样品表面,利用离子束的轰击作用去除表面材料。系统可以调节离子束的能量、角度和处理时间,以实现不同深度和形状的表面处理。通过精确控制这些参数,用户可以获得所需的表面光滑度和特性,确保样品在显微镜观察或其他测试中的高质量表现。

三、主要技术指标:

1. 为了对样品内部结构进行观察、分析,必须让样品内部结构显露出来,日立离子研磨装置使用大面积低能量的Ar离子束,加工出无应力损伤的截面,为SEM观察样品的内部多层结构、结晶状态、 异物解析、层厚测量等提供有效的处理方法

2. 制成的低损伤的截面便于表层以下内部结构分析

3. 适用样品:电子元件如IC芯片、PCBLED等(多层、裂

4. 痕、孔洞分析)、金属(EBSD晶体结构、EDS元素分析、镀 层)、高分子材料、纸、陶瓷、玻璃、粉末等

5. 可移动的样品座可精确定位、实现对特定位置的研磨

6. 大样品: 20 mm× 12 mm× 7 mm

7. 联用样品台在机械研磨、离子研磨、SEM观察(Hitachi机型)之间不用更换样品台


激光干涉仪

用于SENTECH Instruments等离子系统的SENTECH

相位噪声测量

是德科技提供专用的相位噪声分析仪系统,可以简化您的相位噪声测量,并大限

便携式示波器

便携式示波器某些测试要求使用更便携、可堆叠的仪器进行专业级测量。 但是

会员登录

×

请输入账号

请输入密码

=

请输验证码

收藏该商铺

X
该信息已收藏!
标签:
保存成功

(空格分隔,最多3个,单个标签最多10个字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~

以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,化工仪器网对此不承担任何保证责任。

温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。

拨打电话
在线留言