JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜。实现在宽范围加速电压内，超高空间分辨率下高灵敏度分析。

JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜主要特点

1. FHP2 新型物镜极靴

保证超高空间分辨率观察的同时，优化FHP物镜极靴的形状以满足大尺寸双SDDs（158mm²）的需求，x射线有效检测效率提高了两倍以上，实现亚埃级分辨率的EDS元素面分析。

2. 新型屏蔽体

TEM柱采用箱式外壳，可减少温度、气流、噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。

3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™

    快速准确的像差校正

4. 稳定性提高

CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了发射体附近的真空、发射电流、探针电流的稳定性。其他改进也提高了显微镜的稳定性和对各种干扰的抵抗力。