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ATR VM319/4

定义：入射面内偏振的单色平面光波在密－疏媒质的界上全反射时，光疏媒质中所形成的迅衰场（见衰减波）量可以被耦合到金属或半导体的表面上而使表面等离元（SP）或表面极化激元共振激发。全反射的光强因而发生剧邃衰减的现象。

利用光学中的迅衰场与SP相耦合衰减全反射方法在1968年由A.奥托提出。

应用：ATR在实际应用中，作为红外光谱法的重要实验方法之一，从一开始便显示出其特的优势和广阔的应用前景。由于其并不需要通过透过样品的信号，而是通过样品表面的反射信号获得样品表层有机成份的结构信息。不但简化了样品的制作过程，而且极大地扩大了红外光谱法的应用范围。使许多采用传统透过法无法制样，或者样品制备过程十分复杂、难度大、而效果又不理想的实验成为可能。因此，被广泛应用于塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。

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