菲希尔X射线测厚仪Fischer XAN215 返回列表页

菲希尔X射线测厚仪Fischer XAN215

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希尔X荧光射线测厚仪是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，从元素氯（17）到铀（92），可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

CCD彩色摄像头，可沿着初级X射线光束方向，手动焦距，对被测位置进行监控

十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸），可调节亮度的LED照明