SURTRONIC DUO泰勒粗糙度仪 返回列表页

SURTRONIC DUO泰勒粗糙度仪

SURTRONIC DUO泰勒霍普森无锡骏展仪器供应粗糙度仪仪器特点：

快速测量在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

携带方便泰勒霍普森粗糙度仪无锡骏展仪器供应SURTRONIC DUO可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪无锡骏展仪器供应经外接口操作者可在距离被测工件1m处操作测量。

校准方便SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪无锡骏展仪器具有自身校准标准，可预设标准值，通过LCD显示出来。

测针保护不用时，设“park"位置可全面保护测针。

人体工程学设计

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪无锡骏展仪器技术指标：

Ra(算术平均偏差，以前称为CLA或AA)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(采样长度内轮廓线以下的大高度)
Rp(采样长度内轮廓线以上的大高度)
Rt(剖面大峰谷高度)
Rz1max(任何采样长度内的大峰到谷)
偏度-关于平均线的轮廓对称度的测量
Rq(轮廓线与平均线的偏差值的均方根均方根(rms))
Rku(峰度-表面轮廓锐度的测量)