fischer菲希尔镀金层测厚仪 返回列表页

fischer菲希尔镀金层测厚仪

菲希尔X荧光射线测厚仪菲希尔镀金层测厚仪应用范围：
菲希尔X荧光射线测厚仪菲希尔镀金层测厚仪无论是电镀厂的简单的镀层厚度测量（例如铁上镀锌），Fischer X射线测厚仪还是镀液分析，复杂的多镀层应用， 非常复杂的贵金属分析或痕量分析（RoHS），一个软件程序就可以完成所有的测量应用：WinFTM。

Fischer X射线测厚仪仪器描述：

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和FISCHERSCOPE X-RAY XDLM菲希尔X射线测厚仪系列与XUL和XULM系列密切相关：两者都使用相同的接收器，准直器和滤片组合。配备了标准X射线管和固定准直器的XDL仪器非常适合大工件的测量。
XDLM型号的X射线源采用微聚焦管，无锡骏展仪器可以测量细小的部件，对低辐射组分有较好的激励作用。此外，XDLM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造理想的激励条件。

两种型号的仪器都配备了比例接收器探测器。即使对于很小的测量点，无锡骏展仪器供应X射线测厚仪由于接收器的接收面积很大，仍然可以获得足够高的计数率，确保良好的重复精度。
比较XUL和XULM仪器而言，XDL和XDLM系列仪器测量测量方向从上到下。它们被设计为用户友好的台式机，使用模块化结构，也就是说它们可以配备简单支板，各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求。