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EPK MINITEST745测厚仪
●MiniTest 745 EPK测厚仪为ERICHSEN新一代的膜厚计,其测头为新的可透过网际网络更新的内置微数据处理器的SIDSP测头
●MiniTest 745 EPK测厚仪全系列为可更换式测头,使用者仅需更换测头就可以有不同的量程及功能(磁性或非磁性),甚至可以更换为内置式使用或双用(磁性以及非磁性)测量
●LCD屏幕显示的信息可180度旋转,
●内置数据记忆,可记忆100000笔数据,多分100个批组,
●机器可自行进行统计分析
●符合的规范有:DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840;ASTM B 244,B 499,D 7091,E 376;AS 3884.3;SS 1841;SSPC- PA2
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