FISCHERSCOPE XULM-XYM 返回列表页

FISCHERSCOPE XULM-XYM

典型的应用领域有：

1. 微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量

2. 印制线路板上手动测量

3. 珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析

4. 菲希尔X射线荧光镀层测厚仪X-RAY XULM系列设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同样品平台：

XULM：固定平面平台

XULM XYm：手动X/Y平台

FISCHERSCOPE XULM-XYM高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能，可以定位测量位置。

尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XULM光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更大体积的样品。

外罩底部留下了空隙，可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的印制线路板等。

通过强大且界面友好的WinFTM®软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。

XULM型光谱仪是型式许可符合德国"Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。