Fischer菲希尔X荧光射线测厚仪 返回列表页

Fischer菲希尔X荧光射线测厚仪

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500特点

• 通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准

• 重量1.9 kg

• 一次电池充电可持续运行6个小时

• 测量点：3毫米Ø

• 高分辨率硅漂移检测器

• 用于户外的IP54等级

• 用作台式设备的可选测量箱；

• 使用完整版WinFTM®软件进行数据统计

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500

应用

• 测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件

• 一次测试同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe上的ZnNi合金）

• 未知合金的无标准片测量

• 大型镀层零件（例如机器部件和外壳）的测量

• 电镀层的测试

• 电镀液金属含量的分析