库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP 返回列表页

库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP

该机器具有近100种预定义的应用，用于测量不同的涂层系统（例如铁上的锌，黄铜上的镍）和去镀速度（例如1,2,5和10m / min）。 这也可以组合起来用于测试多层系统。

菲希尔库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP强大和用户友好的PCB涂层厚度测量计是生产监控和进入检测的理想选择。

菲希尔库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP典型应用：

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测试印刷电路板上残留的纯锡含量

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测量常见的单相以及双相涂层，如铁上的ZN或铜上的SN / NI

金属涂层的测量厚度品种为0.05 - 50m，不需要预先设置几种材料; 基底组成以及几何形状也与测量过程无关

测量印刷电路板上纯锡的剩余部分，以确保可焊性

多层涂层，如铁/塑料（abs）基板上的CR / NI / CU

菲希尔库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP

无锡代理使用5 x 5个单独测量的测试区域校准测量系统的标准

作为测量镀层厚度zui简单的方法之一，库仑法可以用于 各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构， 当允许破坏性测 量时，它提供了一个比 X 射线更经济的替代方法。

很多常见的单、双镀层例如铁镀锌或者铜镀镍镀锡都可 以用 CMS2 简单快速地测量。这个方法为任何金属镀层 提供了的测量。在厚度范围 0.05 - 50 μm 内， 很多 材料不需要预设定；基材组成和几何形状对于测量都 是无关紧要的。