金属镀层测厚仪 返回列表页

金属镀层测厚仪

德国菲希尔FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射线荧光镀层测厚和材料分析仪是普遍适用的能量色散X射线光谱仪。 它们构成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列开发的下一步。 像它们的前辈一样，它们特别适合于无损厚度测量和薄涂层分析以及批量生产的零件和印制板上的自动测量。有三个型号：XDLM 231具有平面支撑台，XDLM 232具有手动操作的X / Y台。 XDLM 237配备了一个电动X / Y平台，当打开防护罩时，该平台会自动移到装载位置。

菲希尔X射线测厚仪应用实例：

XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各种底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni镀层的厚度。通常功能区都是很小的结构如先进或突起，测量这些区域必须使用很小的准直器或适合样品形状的准直器。例如测量椭圆形样品时，就要使用开槽的准直器以获得大的信号强度。