泰勒霍普森代理粗糙度仪SURTRONIC DUO 返回列表页

泰勒霍普森代理粗糙度仪SURTRONIC DUO

Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度仪是一种便携式、车间用工具，用于快速测量表面粗糙度。这种电池驱动的装置可以作为小型入门级仪器，也可以作为具有多功能检测机构生产工具。它测量生产过程控制检测常用的两个参数Ra和Rz。

英国泰勒公司 SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪为英国泰勒公司推出的新款便携式表面粗糙度仪。SURTRONIC DUO 粗糙度仪通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量，可以在一米外遥控操作；其设计可满足不同的技术与工作环境要求，通用货号订货编号：112-3115。大量程粗糙度仪（Ra）： 大值40μm（1600μin）（Rz、Rv、Rp、Rt）：大值199μm（7800μin）

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪为英国泰勒公司推出的新款便携式表面粗糙度仪。DUO通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量，其设计可满足不同的技术与工作环境要求。

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪特点：

快速测量在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

携带方便DUO可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。

经外接口 操作者可在距离被测工件1m处操作测量。

校准方便DUO具有自身校准标准，可预设标准值，通过LCD显示出来。

测针保护不用时，设“park"位置可全面保护测针。

人体工程学设计

SURTRONIC DUO 粗糙度仪技术指标：

Ra(算术平均偏差，以前称为CLA或AA)

Rz(平均峰谷高度)

Rv(采样长度内轮廓线以下的大高度)

Rp(采样长度内轮廓线以上的大高度)

Rt(剖面大峰谷高度)

Rz1max(任何采样长度内的大峰到谷)

偏度-关于平均线的轮廓对称度的测量

Rq(轮廓线与平均线的偏差值的均方根均方根(rms))

Rku(峰度-表面轮廓锐度的测量)