泰勒霍普森粗糙度仪TAYLOR 返回列表页

泰勒霍普森粗糙度仪TAYLOR

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116测试参数：

三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器：2CR、Gaussian

评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

大行程：17.5mm

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116测试速度：

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116测试参数：

执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

测试单位：um/uin

SURTRONIC S116粗糙度仪

适用于车间、工业和检测室的应用，同包括精密轴承、汽车和航空航天工程等行业的生产商们有着紧密的合作关系，泰勒霍普森专注于研发对于现今精密行业中关键的质量控制技术。新型Surtronic S-100系列仪器能够为您的粗糙度测量需求提供多种解决方案，包括多样化的系统和应用相关配件，并且能够针对特殊应用的配件定制工装。