菲希尔X射线测厚仪 镀层厚度测量 返回列表页

菲希尔X射线测厚仪 镀层厚度测量

菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-ray测量模式用于：

单、双及三层镀层系统；

双元及三元合金镀层的分析和厚度测量；

双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析 （两层的厚度和合金成分都能被测量）； 

能分析多达四种金属成分的合金；电镀液中金属离子含量；

可编程的应用项图标，用于快速应用项选择 ；

完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估 ；

报告生成，数据输出；

菜单中的某些选择项可授权使用；

语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 ；

菲希尔X射线测厚仪注： 

基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时，

可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块，则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。

可选择的Super WinFTM软件（订货号602-950）提供了以下的附加功能：

可随意创建测量应用；

可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度；

快速的频谱分析以决定合金成分。

菲希尔X射线测厚仪 镀层厚度测量