TAYLOR HOBSON SURTRONIC S116粗糙度仪 返回列表页

TAYLOR HOBSON SURTRONIC S116粗糙度仪

TAYLOR HOBSON SURTRONIC S116粗糙度仪

泰勒霍普森粗糙度仪行业标准和可追溯性-所提供的标准能够用于校正仪器和检查测针磨损，以确保总能够得到*准确的测量结果。

测量         最佳测量能力

粗糙度标准(Ra)    ±(2% + 0.004 μm)

工件或者元件表面(Ra)  一次测量值±3%

Surtronic S100系列S116、S128泰勒粗糙度仪技术参数

泰勒霍普森粗糙度仪测量范围S116：200μm

 S128：400μm

Surtronic S128分辨率5nm

泰勒霍普森粗糙度测量仪传感器类型电感

泰勒霍普森代理钻石尖半径缺省5μm 可选2μm、10μm

Surtronic S116触摸屏4.3英寸 彩色

Surtronic S116观察方向随意变换

Surtronic S116取样长度0.25、0.8、2.5mm

泰勒霍普森粗糙度仪滤波器2CR或GAUSS

泰勒霍普森粗糙度仪测量行程0.25-25.5mm

泰勒霍普森粗糙度仪接口USB，miniUSB

电源锂电池

一次充电可以测量2000次

无锡骏展仪器有限责任公司起源于美国,英国,德国和其他地区的合作伙伴,与全系列的产品资源和服务,光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、测量工具测量工具和其他类型的测试设备,努力为客户解决快速分析的测量技术挑战,联合提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案，有效推动企业实现既定目标。